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【行业】半导体材料CMP–晶圆平坦化国产替代放量中(17页)

化学腐蚀 – 抛光液:首先是介于工件表面和抛光垫之间的抛光液中的氧化剂、催化剂等于工件表面材料进行化学反应,在工件表面产生一层化学反应薄膜; 机械摩擦 – 抛光垫:然后由抛光液中的磨粒和由高分子材料制成的抛光垫通过机械作用将这一层化学反应薄膜去除,使工件表面重新裸露出来,然后再进行化学反应。 CMP包括三道抛光工序,主要运用到的材料包括抛光垫、抛光液、蜡、陶瓷片等。不同工序根据目的的不同,分别需要不同的抛光压力、抛光液组分、pH 值、抛光垫材质、结构及硬度等。CMP 抛光液和 CMP 抛光垫是 CMP 工艺的核心要素,二者的性质影响着表面抛光质量。